激光粒度粒形分析儀樣品的準備和基本測量方法
2019-09-26
激光粒度粒形分析儀樣品的準備和基本測量方法
激光粒度粒形分析儀是一種新型的粒度測試儀器，主要適用于微米級顆粒的測試，經(jīng)過改進也可將測量下限擴展到幾十納米，激光粒度儀操作方法如下：
1.激光粒度粒形分析儀樣品準備
樣品必須能夠準確反映待測物質(zhì)，確保使用的樣品是具有代表性的，若樣品儲存在容器中，測量前樣品應充分混合，確保大小顆粒都被取樣。液體樣品需要選擇合適的泵速確保樣品充分混合，防止大顆粒沉入容器底部而沒有被測量;干法測量結束后不要在樣品盤上有殘留樣品，盡量保證所有樣品顆粒都被測量。
2.激光粒度粒形分析儀光學系統(tǒng)的潔凈度
激光散射測量是一種高分辨的光學檢測手段，樣品池檢測窗是測量區(qū)域的主要組成部件，窗口的灰塵和污染物質(zhì)會散射激光，雜質(zhì)散射光會隨分散樣品的散射光一起被測量，從而影響測量的精度。通過觀測測量背景就能判斷系統(tǒng)的光學潔凈程度是否達標。
3.激光粒度粒形分析儀基本測量
一個完整測量過程包括電子背景測量，光學背景測量和對光，加入樣品，開始粒徑測量，完成測量。進入測量過程后，軟件界面的左下方會有對話框指示測量的進程。
1)測量背景：顆粒區(qū)的測量數(shù)據(jù)，由于受到設備電子背景噪音，測試光路中鏡面灰塵，以及分散介質(zhì)中的雜質(zhì)顆粒影響會有一定的偏差。通過“測量背景”能純化粒徑測量，上述的背景信息和數(shù)據(jù)會從樣品測量數(shù)據(jù)中減去以得到的數(shù)據(jù)。
2)加入樣品：在背景測量結束后，出現(xiàn)加入樣品提示。左方遮光度Obscuration指示欄直觀地表示測量樣品的數(shù)量，遮光度會隨著樣品數(shù)量的增加而逐漸增高。在未加入樣品前，右方的測量數(shù)據(jù)柱狀圖應該是隨機變化，而且柱狀數(shù)據(jù)條的高度一般不超過5。
3)開始測量：當遮光度達到測量要求，停止添加樣品后保持穩(wěn)定(一般意味著樣品顆粒沒有發(fā)生溶解或凝聚，樣品顆粒正常穩(wěn)定分散)，同時測量數(shù)據(jù)窗口顯示穩(wěn)定的，足夠強度的柱狀數(shù)據(jù)分布，可以按下“Start”鍵開始測量。
以上便是今天關于激光粒度粒形分析儀樣品的準備和基本測量方法的全部分享了，希望對大家今后使用本設備能有幫助。
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